紅外氣體分析儀測(cè)量誤差來源有哪些？

紅外氣體分析儀是基于被測(cè)介質(zhì)對(duì)紅外光有選擇性吸收而建立的一種分析方法,屬于分子吸收光譜分析法。使紅外線通過裝在一定長度容器內(nèi)的被測(cè)氣體,然后通過測(cè)定通過氣體后的紅外線輻射強(qiáng)度來測(cè)量被測(cè)氣體濃度。

紅外氣體分析儀在測(cè)量過程中會(huì)遇到不同的環(huán)境，從而對(duì)結(jié)果造成一定的誤差，那么常見的誤差來源有哪些呢？

 

1、光路不平衡干擾：

 

一臺(tái)紅外線氣體分析儀預(yù)熱后通入氮?dú)鈺r(shí)，輸出很大，這是由于切光片相位不平衡及光路不平衡引起，因此只要調(diào)整相位調(diào)節(jié)選鈕使輸出達(dá)到小，再調(diào)整光路平衡選鈕使輸出zui小即可。然后同零點(diǎn)氣和量程氣，反復(fù)校準(zhǔn)儀表零點(diǎn)和量程。

 

2、水分干擾：

 

零點(diǎn)氣中若有水分，紅外線氣體分析器標(biāo)定后，會(huì)引起負(fù)誤差，在近紅外區(qū)域，水有連續(xù)的特征吸收波譜，若標(biāo)定用的零點(diǎn)氣中含有水分時(shí)，將造成儀器的零位的負(fù)偏，標(biāo)定后儀器示值必然比實(shí)際值偏低，從而起負(fù)誤差。

 

3、溫度變化的干擾：

 

紅外線氣體分析儀檢測(cè)過程需要在恒定的溫度下進(jìn)行。環(huán)境溫度發(fā)生變化將直接影響紅外光源的穩(wěn)定，影響紅外輻射的強(qiáng)度，影響測(cè)量氣室連續(xù)流動(dòng)的氣樣密度，還將直接影響檢測(cè)器的正常工作。如果溫度大大超過正常狀態(tài)，檢測(cè)器的輸出阻抗下降，導(dǎo)致儀器不能正常工作，甚至損壞檢測(cè)器。紅外分析儀內(nèi)部一般有溫控裝置及超溫保護(hù)電路，即使如此，有的儀器示值特別是微量分析儀器，亦可觀察出環(huán)境溫度變化對(duì)檢測(cè)的影響，在夏季環(huán)境溫度較高時(shí)尤為明顯。在這種情況下，需改變環(huán)境溫度，設(shè)置空調(diào)是一種解決辦法。

 

4、大氣壓力波動(dòng)的干擾：

 

大氣壓力即使在同一個(gè)地區(qū)、同一天內(nèi)也是有變化的。若天氣驟變時(shí)，變化的幅度較大。大氣壓力的這種變化，對(duì)氣樣放空流速有直接影響。經(jīng)測(cè)量氣室后直接放空的氣樣，會(huì)隨大氣壓力的變化使氣室中氣樣的密度發(fā)生變化，從而造成附加誤差。